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    產(chǎn)品展示
    • XRF-D7鍍層厚度分析儀

      X熒光光譜鍍層測厚儀,型號:XRF-D7,標配美國進(jìn)口新一代SI-P探測儀,測試范圍:硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。

      型號:XRF-D7
      更新日期:2015-09-21
      119000
    • XRF-D8鍍層厚度分析儀

      X熒光光譜鍍層測厚儀,型號:XRF-D8,標配美國進(jìn)口SDD探測器,測試范圍:鎂Mg-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。

      型號:XRF-D8
      更新日期:2015-09-21
      169000
    • XRF-9500鍍層厚度分析儀

      目前常用的鍍層檢測方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)熒光光譜法等。前五種方法要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,是屬于有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢。而X射線(xiàn)熒光光譜法的技術(shù)相對成熟,可以達到即時(shí)分析,無(wú)損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點(diǎn)后四位數,是我國普及型貴金屬檢測技術(shù)的發(fā)展方向。西凡科技生產(chǎn)的鍍層檢測儀使用的就是X射線(xiàn)熒光光譜法這一*的檢測技術(shù)。

      型號:XRF-9500
      更新日期:2015-11-07
      129000
    • XRF-D7金屬鍍層厚度分析儀

      金屬鍍層厚度分析儀標配美國進(jìn)口新一代SI-P探測儀,測試范圍:硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍:0.0035um--40um。

      型號:XRF-D7
      更新日期:2016-11-09
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